Hinweis: Diese Website befindet sich im Rahmen des Web-Relaunch-Projekts in der Ablösung und wird nicht mehr aktualisiert. Bitte beachten Sie, dass die dargestellten Informationen möglicherweise nicht mehr aktuell sind. Aktuelle Informationen finden Sie auf der neuen Website der Universität Siegen unter www.uni-siegen.de .

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REM/FIB-School

Das Gerätezentrum für Mikro- und Nanoanalytik MNaF plant zusammen mit dem Lehrstuhl für Mikro- und Nanoanalytik im Herbst dieses Jahres zum ersten Mal eine REM/FIB-School zu veranstalten, zu der wir alle Interessierten herzlich einladen.

Die wichtigsten Eckdaten des Workshops finden sie auf der  Homepage des MNaf . 

In der REM/FIB-School werden die theoretischen und methodischen Grundlagen der Rasterelektronenmikroskopie und -ionenmikroskopie sowie deren praktische Umsetzung am Gerät vermittelt. Diese sollen den Teilnehmern einen einfachen Zugang zu anspruchsvollen mikroskopischen Methoden für ihre Forschung ermöglichen. Sollten Sie Fragen zur REM-School haben oder sich direkt anmelden wollen (bis zum 05.08.2019), wenden Sie sich bitte direkt an Dr.  Yilmaz Sakalli .

 
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