..
Suche
Hinweise zum Einsatz der Google Suche
Personensuchezur unisono Personensuche
Veranstaltungssuchezur unisono Veranstaltungssuche
Katalog plus

FEREM

ULTRA 55

Ultrahochauflösendes Feldemissions Rasterelektronenmikroskop (FESEM - engl. field emission scanning electron microscope) der Firma ZEISS. Ausgestattet mit einem standard Eberhart-Thornley Sekundärelektronen (SE) Detektor, einem In-Lens SE Detektor und einem EsB (enegry and angle selective backscattered electrons) Detektor. Das Mikroskop bietet eine 12 - 900.000 fache Vergrößerung mit den SE Detektoren und eine 100 - 900.000 fache Vergrößerung mit dem EsB Detektor. Die Auflösung liegt bei 1 nm und selbst bei geringen Beschleunigungsspannungen von nur 1 kV und darunter können Auflösungen von 1,7 nm erreicht werden. Mit dem (In-Lens) EsB Detektor können Materialkontraste dargestellt werden. Die Signale aus SE und BsE Detektoren können gleichzeitig auf zwei Bildschirmen angezeigt werden oder überlagert bzw. gemischt werden, sodass sehr kontrastreiche Bilder entstehen. Mit Hilfe eines speziellen Probenhalters ist es möglich Transmissionsbilder aufzunehmen. Diese Technik war bisher den Transmissionselektronenmikroskopen (TEM) bzw. den extra dafür entwickelten Raster-Transmissionselektronenmikroskopen (STEM) vorbehalten. Mit der hier eingesetzten Technik sind Transmissionsbilder auch bei geringen Beschleunigungsspannungen von 10 - 30 kV möglich.

Ein energie-dispersives Röntgenspektrometer (EDX) der Firma Thermo Scientific für die qualitative und quantitative Elementbestimmung ist im REM integriert.